东方中科走进前沿所研究生党支部：聚焦半导体测试测量，共探先进器件表征前沿
编辑：孙迪 来源：集成电路学院 发布时间：2026-05-18 访问次数：10
为进一步加强产学研交流合作，拓宽研究生对半导体器件测试与表征领域前沿技术的认识，5月14日，学院前沿所研究生党支部邀请东方中科及其相关团队来到浙江大学国际科创中心开展专题交流分享活动，活动在科创中心A03-420会议室举行，吸引了众多师生参与。
本次交流围绕半导体与低维器件测试、先进工艺探针台应用以及芯片失效与热分析等方向展开。活动中，Keithley结合半导体器件研究与二维材料测试需求，介绍了器件电学表征、性能分析及相关测试方案；MPI围绕先进工艺中的探针台应用进行了分享，展示了先进测试平台在科研与工艺开发中的应用优势；Luxet则从芯片与电子器件失效分析、热分析等角度出发，介绍了相关检测技术与应用场景。
活动现场还结合相关设备进行了展示与交流，不少同学围绕器件测试、平台搭建以及科研应用等问题与企业工程师展开深入探讨，现场交流氛围热烈。
本次专题交流活动不仅加深了同学们对半导体测试测量领域前沿技术与产业应用的理解，也进一步促进了校企之间的互动交流。
未来，前沿所将继续加强与行业企业的交流合作，搭建更多高水平产学研互动平台，助力研究生拓展学术视野、提升科研实践能力。
